Izumi T., Shiohara Y., Kato T., Yamada Y., Hirayama T., Kiyoshi T., Miyata S., Kosuge M., Kuriki R., Ibi A., Fukushima H., Kinoshita A., Yoshizumi. M.
Hasegawa M., Nagai T., Kosuge M., Kubo Y.(Kubo.Yoshio@ds.MitsubishiElectric.co.jp), Egawa K., Sone T., Ikeda B.
Ключевые слова: LTS, Nb3Sn, wires, assembled conductors, internal tin method, ac losses, Jc/B curves, experimental results, critical caracteristics
Kikuchi A., Iijima Y., Banno N., Takeuchi T.(TAKEUCHI.Takao@nims.go.jp), Kosuge M.
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.